A1000 偏光アナライザ(850~1100nm)
850~1100nmの波長範囲におけるSOP(偏光状態)の解析を行います。
測定項目:SOP(偏光状態),DOP(偏光度)
波長:850~1000nm,950~1100nm
⇒詳細(英語）
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850~1100nmの波長範囲におけるSOP(偏光状態)の解析を行います。
測定項目:SOP(偏光状態),DOP(偏光度)
波長:850~1000nm,950~1100nm
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A1200 消光比測定器(850~1100,1260~1640nm)
PMファイバー中のPER(消光比)を高速にかつ正確に測定・解析します。
0~50ｄBまでのPER測定可能です。
波長:850~1000nm,950~1100nm,1260~1640nm
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PMファイバー中のPER(消光比)を高速にかつ正確に測定・解析します。
0~50ｄBまでのPER測定可能です。
波長:850~1000nm,950~1100nm,1260~1640nm
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A2000コンポーネントアナライザ(850~1100nm,1.3,S-,C-,L-バンド)
JME(Janes Matrix Eigen)解析法により光コンポネントの偏光特性を短時間にかつ高精度に測定を達成します。
測定項目:PMD(偏光モード分散),PDL(偏光依存損失),DGD(群速度),
IL(挿入損失),TE/TM-IL
波長:850~1000nm,950~1100nm,1.3, S-,C-&L-バンド
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JME(Janes Matrix Eigen)解析法により光コンポネントの偏光特性を短時間にかつ高精度に測定を達成します。
測定項目:PMD(偏光モード分散),PDL(偏光依存損失),DGD(群速度),
IL(挿入損失),TE/TM-IL
波長:850~1000nm,950~1100nm,1.3, S-,C-&L-バンド
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偏光面の測定・解析 AdaptifPhotonics