◇光デバイスの環境試験システム
アクティブ(能動)デバイス(光源･測定器･他機器)
光デバイスの環境試験システム
Enviromental Optical Test System
OZ Optics社
光デバイスの環境試験システム
Enviromental Optical Test System
OZ Optics社
特 長
･光受動部品の信頼性の長期テスト可能
･多波長適応可能
･多チャンネル構成
･オプション:掃引波長/ 可能
･柔軟性が有り簡単なユーザーインターフェース
･統計的な測定解析
･カスタムの構成設計が」可能
･オプション:光リターンロス/ 光反射減衰量測定可能
･オプション:PDL/ 偏波依存損失測定可能
･経済価格
･光受動部品の信頼性の長期テスト可能
･多波長適応可能
･多チャンネル構成
･オプション:掃引波長/ 可能
･柔軟性が有り簡単なユーザーインターフェース
･統計的な測定解析
･カスタムの構成設計が」可能
･オプション:光リターンロス/ 光反射減衰量測定可能
･オプション:PDL/ 偏波依存損失測定可能
･経済価格
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パラメータ
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単位
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仕様値
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波長範囲
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nm
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1310, 1550 or 1625
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光源のタイプ
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-
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SLED
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出力パワー
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dBm
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> - 6
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チャンネル番号
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-
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12 or 24
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挿入損失再現性
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dB
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± 0.025
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挿入損失ダイナミックレンジ
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dB
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50
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ORL 精度
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dB
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±0.5 (~ 55dB)
±1dB(55~60dB) |
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PDL 精度
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dB
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±0.01dB + 55dB to 60dB)
|
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PDL ダイナミックレンジ
|
dB
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0.025 ~ 10
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ファイバータイプ
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-
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SMF-28(9/125/900 um)
|
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入力コネクタタイプ
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-
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Ultra FC/PC, FC/APC, SC, SCA, LC, or MU
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出る力コネクタタイプ
|
-
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Ultra FC/PC, FC/APC, SC, SCA, LC, or MU
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ディスプレー解像度
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dB
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0.01 or 0.001
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スイッチ寿命
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サイクル
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10万以上
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隣接チャンネルスイッチング時間
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サイクル
|
10万以上
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ホストコンピュータ動作システム
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-
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Windows-2000, -ME, -XP, -98,
最低の必要条件:300MHz or faster Pentium III computer 128 Mb of RAM |
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外部コントロール
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-
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Parallel Printer Port, RS-232 or GPIB
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重さ
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kg
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< 10
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動作/ 保存温度
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℃
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0 ~ 50/ -40 ~ +60
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プラットホームサイズ(H-W-D)
(コンピュータ除く) |
cm
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17.6 x 48 x 36
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入力電圧
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VAC
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100 to 240/ 50 to 60 Hz
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仕 様:標準製品仕様
ご注文方法
下記より選択下さい。詳しくは当ページのPDF(詳細･英語)をご参照下さい。
応 用
･DWDNチャンネル試験
･光受動部品の長期信頼性試験
･波長依存による挿入損失対特性試験
･光反射現推量測定＆試験
･波長に対するPDL/偏波依存損失依存性測定
･Telcordiaに対して製品の品質保証
･品質管理
･DWDNチャンネル試験
･光受動部品の長期信頼性試験
･波長依存による挿入損失対特性試験
･光反射現推量測定＆試験
･波長に対するPDL/偏波依存損失依存性測定
･Telcordiaに対して製品の品質保証
･品質管理