◇光デバイスの環境試験システム


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株式会社ネオトロン
アクティブ(能動)デバイス(光源・測定器・他機器)
光デバイスの環境試験システム
Enviromental Optical Test System
OZ Optics社

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特 長
・光受動部品の信頼性の長期テスト可能
・多波長適応可能
・多チャンネル構成
・オプション:掃引波長/ 可能
・柔軟性が有り簡単なユーザーインターフェース
・統計的な測定解析
・カスタムの構成設計が」可能
・オプション:光リターンロス/ 光反射減衰量測定可能
・オプション:PDL/ 偏波依存損失測定可能
・経済価格


詳細(英語)
パラメータ
単位
仕様値
波長範囲
nm
1310, 1550 or 1625
光源のタイプ
-
SLED
出力パワー
dBm
> - 6
チャンネル番号
-
12 or 24
挿入損失再現性
dB
± 0.025
挿入損失ダイナミックレンジ
dB
50
ORL 精度
dB
±0.5 (~ 55dB)
±1dB(55~60dB)
PDL 精度
dB
±0.01dB + 55dB to 60dB)
PDL ダイナミックレンジ
dB
0.025 ~ 10
ファイバータイプ
-
SMF-28(9/125/900 um)
入力コネクタタイプ
-
Ultra FC/PC, FC/APC, SC, SCA, LC, or MU
出る力コネクタタイプ
-
Ultra FC/PC, FC/APC, SC, SCA, LC, or MU
ディスプレー解像度
dB
0.01 or 0.001
スイッチ寿命
サイクル
10万以上
隣接チャンネルスイッチング時間
サイクル
10万以上
ホストコンピュータ動作システム
-
Windows-2000, -ME, -XP, -98,
最低の必要条件:300MHz or faster Pentium III computer
128 Mb of RAM
外部コントロール
-
Parallel Printer Port, RS-232 or GPIB
重さ
kg
< 10
動作/ 保存温度
0 ~ 50/ -40 ~ +60
プラットホームサイズ(H-W-D)
(コンピュータ除く)
cm
17.6 x 48 x 36
入力電圧
VAC
100 to 240/ 50 to 60 Hz
仕 様:標準製品仕様
ご注文方法
下記より選択下さい。詳しくは当ページのPDF(詳細・英語)をご参照下さい。
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応 用
・DWDNチャンネル試験 
・光受動部品の長期信頼性試験
・波長依存による挿入損失対特性試験
・光反射現推量測定&試験
・波長に対するPDL/偏波依存損失依存性測定
・Telcordiaに対して製品の品質保証
・品質管理