◇ベンチトップ バックリフレクション(反射減衰量)メータ
アクティブ(能動)デバイス(光源･測定器･他機器)
ベンチトップ バックリフレクション(反射減衰量)メータ
Benchitop Backreflection Meter
OZ Optics社
ベンチトップ バックリフレクション(反射減衰量)メータ
Benchitop Backreflection Meter
OZ Optics社
ご注文方法:バックリフレクション(反射減衰量)メータ
下記より選択下さい。詳しくは当ページのPDF(詳細･英語)をご参照下さい。
特 長：
･波長は633-1625nmとユニークな帯域により特殊用途の適応
･安定度の優れた広帯域SLED
･-75dBまでの高感度特性
･UBS通信ポート内臓
･広帯域波長の適応範囲
･タッチスクリーンディスプレー
･2波長光源可能
･高分解能特性
･オプション:挿入損失測定対応可能
･メモリ内蔵
･波長は633-1625nmとユニークな帯域により特殊用途の適応
･安定度の優れた広帯域SLED
･-75dBまでの高感度特性
･UBS通信ポート内臓
･広帯域波長の適応範囲
･タッチスクリーンディスプレー
･2波長光源可能
･高分解能特性
･オプション:挿入損失測定対応可能
･メモリ内蔵
応 用：
･OCTデバイスの試験
･受動光ファイバーデバイスの反射減衰量測定
･挿入損失の測定
･End-to-End 損失測定
･品質制御
･新製品の開発
･コンポーネント又はシステムのトラブルシュート
･ネットワーク敷設
･OCTデバイスの試験
･受動光ファイバーデバイスの反射減衰量測定
･挿入損失の測定
･End-to-End 損失測定
･品質制御
･新製品の開発
･コンポーネント又はシステムのトラブルシュート
･ネットワーク敷設
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パラメータ
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仕様値
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中心波長 (2)
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633 nm
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850 nm
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1060 nm
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1310 nm
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1550 nm
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1625 nm
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使用光源(3)
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SLED
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出力パワー
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≧ -3 dBm
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コネクタタイプ
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8°角度研磨 NTT-FC/APC レセプタクル
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SMモードファイバータイプ
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4/ 125 μm
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5/125
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6/125
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9/125
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MMモードファイバータイプ
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50/125 μm
62.5/125um |
50/125 μm
62.5/125um |
50/125 μm
62.5/125um |
50/125 μm
62.5/125um |
50/125 μm
62.5/125um |
50/125 μm
62.5/125um |
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SM反射ダイナミックレンジ(4)
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0～ -50 dB
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0 ~ -60 dB
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0 ~ -70dB
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0 ~ -75dB
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MM反射ダイナミックレンジ(4)
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0 ~ -30 dB
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反射精度(5)
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±0.4 dB (-50 dB迄) ；± 1.0 dB(-65 dB迄);
± 2.5 dB(-70 dB迄)；± 3.5 dB(以下-70 dB迄) |
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IL ディテクタタイプ(6)
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1.5mm Si
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3mm InGaAs
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IL ダイナミックレンジ(6)
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0 ~ 55dB
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0 ~ 60 dB
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IL 精度(6)
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±0.025 dB
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±0.025 dB
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長期(7) / 短期(8)安定度
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± 0.05 dB/ ± 0.025 dB
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入力電圧
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9~12 VDC アダプタ
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サイズ / 重さ
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280 x 300 x 100 mm / 4kg
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動作温度/ 保存温度
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-10 ~ +55 ℃/ -30 ～ +70℃
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湿度
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< 85%RH,結露なし
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デスプレー
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タッチスクリーン
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仕様:ベンチトップ バックリフレクション(反射減衰量)メータ
標準製品仕様 (1)
注-1:参考コンディション:15分ウォーミングアップ後、23℃環境温度
-2:LDの製造メーカの特性と動作温度による
-3:特殊は長の場合、SLEDでなくファブリ･ペローレーザが用いられます
-4:波長とファイバータイプに由ります
-5:SLEDが用いられた場合反射精度に付いては検討を要します。
-2:LDの製造メーカの特性と動作温度による
-3:特殊は長の場合、SLEDでなくファブリ･ペローレーザが用いられます
-4:波長とファイバータイプに由ります
-5:SLEDが用いられた場合反射精度に付いては検討を要します。
-6: ILバージョンのみ
-7:1310nm、1550nmの波長で6時間一定温度、15分ウォーミングアップした後
-8:-7:1310nm、1550nmの波長で15分一定温度、15分ウォーミングアップした後
-7:1310nm、1550nmの波長で6時間一定温度、15分ウォーミングアップした後
-8:-7:1310nm、1550nmの波長で15分一定温度、15分ウォーミングアップした後